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我们的综合解决方案采用了专属的吸收衬度增强探测器，尽可能地吸收低能量光子，同时尽可能地少吸收降低图像衬度的高能量光子，从而为您提供拥有出色衬度的成像结果。此外，可调节的传播相位衬度技术通过探测经过材料后产生折射的X 射线光子信号，可显示出那些吸收衬度很低甚至没有吸收衬度的特征。
蔡司Xradia 515 Versa 的所有功能均与“定位- 和- 扫描”（Scout-and-Scan） 控制软件无缝整合在一起，提供一个的工作流程境，让您能够轻松定位到感兴趣区域和选择扫描参数。对那些使用者经验水平各不相同的中心实验室用户来说，这款简洁易用的系统可谓是理想的选择。
界面保持了蔡司Xradia Versa 系统一如既往的灵活性，使您更容易设置各种扫描。“定位- 和- 扫描”（Scout-and-Scan） 控制软件同时还可实现基于规程的可重复性，特别适用于原位和4D 研究，让您未来的科研工作更、更有序。
重建工具箱是一个创新的平台，您可以在此平台上连续使用蔡司重建技术，用来丰富您的研究，并提高蔡司Xradia 三维XRM 的。
蔡司DeepRecon Pro 是一项基于人工智能的创新技术，可为各种应用带来出色的通量和图像质量优势。DeepRecon Pro 既适用于单的某个样品，也适用于半重复和重复工作流程。用户们现在可以通过使用极其方便的界面在现场自己训练新的机器学习网络模型DeepRecon Pro 的一键式工作流程让没有任何经验的用户也可熟练操作，无需熟知机器学习技术的。蔡司DeepRecon Custom 适用于重复性工作流程，可进一步提升XRM 性能，DeepRecon Pro。用户可与蔡司密切合作，开发用户定制创建的网络模型，满足其重复性应用的需求。
蔡司XRM 以其特的性能让的原位实验得以实现。这些研究要求样品远离X 射线源，以安放各种类型的原位装置。在传统的微米CT 系统中这一要求大大限制了样品能够达到的分辨率。蔡司X 射线显微镜采用特的两级放大架构和大工作距离高分辨率（RaaD）技术，确保高分辨率原位成像
